AOI自動(dòng)檢測(cè)儀濾光片

紫色光譜：380-450nm；可定制中心波長(zhǎng)430nm

藍(lán)色光譜：450-475nm；可定制中心波長(zhǎng)460nm

青色光譜：476-495nm；可定制中心波長(zhǎng)480nm

綠色光譜：495-570nm；可定制中心波長(zhǎng)540nm

黃色光譜：570-590nm；可定義中心波長(zhǎng)580nm

橙色光譜：590-620nm；可定義中心波長(zhǎng)610nm

紅色光譜：620-750nm；可定義中心波長(zhǎng)660nm

透紅濾光片

透黃

透藍(lán)（蘭）

透綠

自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)（automated optical inspection, AOI）技術(shù)，也稱為機(jī)器視覺檢測(cè)（machine vision inspection, MVI）技術(shù)或自動(dòng)視覺檢測(cè)（automated visual inspection, AVI）技術(shù)。

在產(chǎn)品制造過程中，由于各種原因，零部件不可避免的會(huì)產(chǎn)生多種缺陷，如印制電路板上出現(xiàn)孔錯(cuò)位、劃傷、斷路、短路、污染等缺陷，液晶面板的基板玻璃和濾光片表面含有針孔、劃痕、顆粒、mura等缺陷，帶鋼表面產(chǎn)生裂紋、輥印、孔洞、麻點(diǎn)等缺陷，這些缺陷不僅影響產(chǎn)品的性能，嚴(yán)重時(shí)甚至?xí)：Φ缴踩?，?duì)用戶造成巨大經(jīng)濟(jì)損失。

傳統(tǒng)缺陷檢測(cè)方法為人工目視檢測(cè)法，目前在手機(jī)、平板顯示、太陽(yáng)能、鋰電池等諸多行業(yè)，仍然有大量的產(chǎn)業(yè)工人從事這項(xiàng)工作。這種人工視覺檢測(cè)方法需要在強(qiáng)光照明條件下進(jìn)行，不僅對(duì)檢測(cè)人員的眼睛傷害很大，且存在主觀性強(qiáng)、人眼空間和時(shí)間分辨率有限、檢測(cè)不確定性大、易產(chǎn)生歧義、效率低下等缺點(diǎn)，已很難滿足現(xiàn)代工業(yè)高速、高分辨率的檢測(cè)要求。

隨著電子技術(shù)、圖像傳感技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展，利用基于光學(xué)圖像傳感的表面缺陷自動(dòng)光學(xué)（視覺）檢測(cè)技術(shù)取代人工目視檢測(cè)表面缺陷，已逐漸成為表面缺陷檢測(cè)的重要手段，因?yàn)檫@種方法具有自動(dòng)化、非接觸、速度快、精度高、穩(wěn)定性高等優(yōu)點(diǎn)。

根據(jù)成像方法的不同，AOI又可分為三維（3D）AOI和二維（2D）AOI，三維AOI 主要用于物體外形幾何參數(shù)的測(cè)量、零件分組、定位、識(shí)別、機(jī)器人引導(dǎo)等場(chǎng)合； 二維AOI主要用于產(chǎn)品外觀（色彩、缺陷等）檢測(cè)、不同物體或外觀分類、良疵品檢測(cè)與分類等場(chǎng)合